| 产品介绍 | XJ4810/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特性进行对比分析，便于对管或器件的配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。 | 用于测量各种半导体管特性曲线和静态参数的测量仪器，是便携式图示仪。整机采用新颖电路设计技术，具备外形轻巧，操作简便，性能稳定可靠，性价比高的特点，能满足大部分半导体器件的测试要求。适合工厂生产线，大专院校教学实验和电子设备维修等领域使用。 | CRT读出半导体管特性图示仪用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，以数字字符显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，从而减少了读数误差，提高了测量精度。本仪器室智能化的测量仪器。 | CRT读出图示仪，外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二级管，三机管，场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便，二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。 |